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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2
Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 156
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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Bert Voigtländer
Das Buch "Scanning Probe Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie und der Rastertunnelmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Die einzelnen Kapitel behandeln sowohl die spezifischen Techniken der Rastersondenmikroskopie als auch grundlegende Konzepte und wichtige technische Aspekte, die für das Verständnis dieser Technologien unerlässlich sind. Dieses Fachbuch richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften sowie an Forschende, die neu in diesem Bereich sind. Es bietet eine wertvolle Ressource für alle, die sich mit den modernen Methoden der Mikroskopie auseinandersetzen möchten.
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Ähnliche Suchbegriffe für Scanning-Capacitance-Microscopy-Taschenbuch
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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Roland WiesendangerDas Fachbuch "Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods" bietet eine umfassende Einführung in die analytischen Methoden, die auf der Nanometerskala basieren und sich auf die Rastersondenmikroskopie und Spektroskopie konzentrieren. Es behandelt eine Vielzahl von Anwendungen des chemischen Kontrastmechanismus bis hinunter zur atomaren Ebene in der Oberflächenphysik und -chemie. Die Diskussion wird durch umfangreiche Verweise auf originale Arbeiten in der aktuellen Literatur ergänzt, was das Buch zu einer wertvollen Ressource für Fachleute und Studierende in diesen Bereichen macht. Die detaillierte Analyse und die praktischen Beispiele ermöglichen ein tiefes Verständnis der Thematik und fördern die Anwendung der vorgestellten Methoden in der Forschung.160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Electron Microscopy, Fachbücher von Ludwig ReimerDas Buch "Scanning Electron Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Physik der Elektronenstrahlbildung und die Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Proben. Es behandelt verschiedene Bildgebungs- und Analysemethoden, die auf sekundären und rückgestreuten Elektronen basieren, sowie auf Elektronenstrahl-induzierten Strömen, Röntgen- und Augerelektronen, Elektronenkanalisierungseffekten und Kathodolumineszenz. Diese Techniken werden detailliert erläutert, um spezifische Kontraste zu bewerten und quantitative Informationen zu gewinnen. Die zweite Auflage des Buches, herausgegeben von P.W. Hawkes und verfasst von Ludwig Reimer, richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein vertieftes Verständnis der Rasterelektronenmikroskopie anstreben.374,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching, Fachbücher von Gerd KauppDas Buch "Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching" bietet eine umfassende Einführung in die Grundlagen und Anwendungen der Supermikroskopie, insbesondere der Atomkraftmikroskopie (AFM) und der Scanning Nearfield Optical Microscopy (SNOM). Es richtet sich an Fachleute aus den Naturwissenschaften, einschliesslich Physik, Chemie, Mineralogie, Materialwissenschaften, Biologie und Medizin, sowie an Fachleute im Bereich der Nanotechnologie. Die Monographie behandelt die Unterschiede zwischen nano- und mikro-mechanischen Tests und erläutert die Herausforderungen und Lösungen bei der Untersuchung von rauen und technischen Oberflächen im Submikronbereich. Besondere Aufmerksamkeit wird den neuen Instrumentierungen, physikalischen Gesetzen und innovativen Anwendungen gewidmet, die in verschiedenen wissenschaftlichen Disziplinen von Bedeutung sind. Zudem werden häufige Fehlerquellen und deren effiziente Behebung behandelt, um die Anwendung der Prinzipien auf reale wissenschaftliche und industrielle Aufgaben zu erleichtern.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2Scanning Capacitance Microscopy, Taschenbuch Von Wolfgang Brezna, Südwestdeutscher Verlag Für Hochschulschriften, 978-3-8381-0267-2, Seitenanzahl: 15669,90 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Bert VoigtländerDas Buch "Scanning Probe Microscopy" von Bert Voigtländer bietet eine umfassende Einführung in die Betriebsprinzipien der Rasterkraftmikroskopie und der Rastertunnelmikroskopie. Es zielt darauf ab, den Leser in die Lage zu versetzen, ein Rastersondenmikroskop erfolgreich zu bedienen und die gewonnenen Daten zu verstehen. Die einzelnen Kapitel behandeln sowohl die spezifischen Techniken der Rastersondenmikroskopie als auch grundlegende Konzepte und wichtige technische Aspekte, die für das Verständnis dieser Technologien unerlässlich sind. Dieses Fachbuch richtet sich in erster Linie an Studierende der Physik, Materialwissenschaften, Chemie, Nanowissenschaften und Ingenieurwissenschaften sowie an Forschende, die neu in diesem Bereich sind. Es bietet eine wertvolle Ressource für alle, die sich mit den modernen Methoden der Mikroskopie auseinandersetzen möchten.213,99 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Probe Microscopy, Fachbücher von Roland WiesendangerDas Fachbuch "Scanning Probe Microscopy - Analytical Methods" bietet eine umfassende Einführung in die analytischen Methoden, die auf der Nanometerskala basieren und sich auf die Rastersondenmikroskopie und Spektroskopie konzentrieren. Es behandelt eine Vielzahl von Anwendungen des chemischen Kontrastmechanismus bis hinunter zur atomaren Ebene in der Oberflächenphysik und -chemie. Die Diskussion wird durch umfangreiche Verweise auf originale Arbeiten in der aktuellen Literatur ergänzt, was das Buch zu einer wertvollen Ressource für Fachleute und Studierende in diesen Bereichen macht. Die detaillierte Analyse und die praktischen Beispiele ermöglichen ein tiefes Verständnis der Thematik und fördern die Anwendung der vorgestellten Methoden in der Forschung.160,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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Scanning Electron Microscopy, Fachbücher von Ludwig ReimerDas Buch "Scanning Electron Microscopy" bietet eine umfassende Einführung in die Physik der Elektronenstrahlbildung und die Wechselwirkungen zwischen Elektronen und Proben. Es behandelt verschiedene Bildgebungs- und Analysemethoden, die auf sekundären und rückgestreuten Elektronen basieren, sowie auf Elektronenstrahl-induzierten Strömen, Röntgen- und Augerelektronen, Elektronenkanalisierungseffekten und Kathodolumineszenz. Diese Techniken werden detailliert erläutert, um spezifische Kontraste zu bewerten und quantitative Informationen zu gewinnen. Die zweite Auflage des Buches, herausgegeben von P.W. Hawkes und verfasst von Ludwig Reimer, richtet sich an Fachleute und Studierende, die ein vertieftes Verständnis der Rasterelektronenmikroskopie anstreben.374,49 €*Versand: 0,00 €Sichere Weiterleitung zum Anbieter
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